Das neue SpecWin Pro 5.0 ermöglicht eine zentrale Bedienung und Analyse aller angeschlossenen Spektrometer in einer einheitlichen Software. Verbesserte Goniometer-Steuerung mit Sequence Calculator und automatischer Justagekompensation liefert akkurate Abstrahlverteilungen. Integrierte SMU-Ansteuerung beschleunigt VCSEL-Pulsmessungen mit µs-Präzision. Die Kombination mit TOP300/CAS 140D inklusive View-Finder-Kamera simuliert das menschliche Auge für Near-Eye-Display-Tests. Exportfunktionen in EULUMDAT, IES und Relux-kompatiblem UGR-Reporting optimieren Dokumentation, Protokolle und tägliche Laborroutinen. Automatische Kalibrierungsroutinen und flexible Anbindung externer Geräte reduzieren Einrichtungsaufwand.
Inhaltsverzeichnis: Das erwartet Sie in diesem Artikel
SpecWin Pro 5.0 steigert Messgenauigkeit durch intelligente optimierte Modul-Koordination
Leuchte mit beidseitiger Abstrahlcharakteristik (Foto: Instrument Systems GmbH)
SpecWin Pro 5.0 fasst alle Spektrometer von Instrument Systems in einem konsistenten Softwarepaket zusammen und stellt eine klare Bedienoberfläche für die Parameterkonfiguration und Datenauswertung bereit. Neben den Exportmöglichkeiten in EULUMDAT (LDT) und IES (IESNA LM-63) ist die CIE-Norm 190:2010 integriert, während die UGR-Berechnung für Relux-Anwendungen optimiert wurde. Durch die modulare Architektur wird die Präzision gesteigert, Arbeitsabläufe werden verschlankt und individualisierbare Reports lassen sich unkompliziert erzeugen und Systemintegration beschleunigt Projektumsetzung dauerhaft.
Goniometer-Tool ermöglicht vollständige Erfassung beidseitiger Abstrahlcharakteristiken und komfortablen Datenexport
Das Goniometer-Modul erhält mit dem Sequence Calculator eine erweiterte Funktionalität, die mehrere Messsequenzen bei variierenden Ausrichtungswinkeln des DUT automatisch kombiniert und verrechnet. Diese Automatisierung ermöglicht die vollständige Vermessung von komplexen Leuchtprofilen mit beidseitiger Abstrahlung. Justageabweichungen werden automatisch kompensiert, um den minimal möglichen Verrechnungsfehler zwischen Serien zu erzielen. Die darauf basierende Interpolation liefert fein abgestufte Strahlungsdaten, die sofort als EULUMDAT- oder IES-konforme Exportdateien zur Verfügung stehen und effizient in Messberichte integriert.
SpecWin Pro 5.0 eliminiert externe Programmierung für schnelle VCSEL-Messungen
Mit SpecWin Pro 5.0 entfällt das separate Programmieren zur Steuerung von Source Measure Units unterschiedlichster Hersteller wie Keithley Instruments und Vektrex Inc. Die Softwareplattform integriert beide Aufgabenfelder und ermöglicht so die simultane Kontrolle der Stromquelle und des Spektrometers. Pulsdauern bis zehn Mikrosekunden werden über ein gemeinsames Interface präzise festgelegt und dokumentiert. Das reduziert den Konfigurationsaufwand, minimiert Hardwarekomplexität und beschleunigt Messreihen unter identischen Rahmenbedingungen. Zudem bietet es umfassende Auswertungsmöglichkeiten für Messergebnisse.
Hersteller erzielen reproduzierbare Ergebnisse dank integrierter View-Finder-Kamera und TOP300-System
Durch die Integration des TOP300-Messzubehörs in Verbindung mit dem kalibrierten CAS 140D-Spektrometer können Hersteller von AR/VR-Displays Messungen innerhalb eines Winkels von ±1,2° durchführen, der dem menschlichen Blickfeld entspricht. Die kombinierte Lösung simuliert mit optischem Design das Auge des Nutzers, während die eingebaute View-Finder-Kamera präzise Ausrichtung ermöglicht. Dies führt zu konsistenten, reproduzierbaren Daten und optimiert den Kalibrierungs- und Prüfprozess im Laborumfeld. Automatische Justagefunktionen minimieren Fehlerquellen und beschleunigen Testzyklen, sodass Entwicklungszyklen verkürzt.
Nahtlose Relux Integration und standardisierte Exporte erhöhen Softwareflexibilität maßgeblich
SpecWin Pro 5.0 stellt eine modulare Softwarelösung dar, die Spektral- und Goniometriedaten in einer Oberfläche vereint. Mit dem Sequence Calculator lassen sich komplexe Messreihen automatisiert auswerten, während automatische Justagekorrekturen die Genauigkeit erhöhen. Die verbesserte SMU-Integration ermöglicht streng gepulste VCSEL-Messungen bis zu 10 µs. Das Zusammenspiel mit dem TOP300/CAS 140D und der integrierten View-Finder-Kamera erleichtert Near-Eye-Display-Prüfungen. Standardformate EULUMDAT, IES sowie Relux-konformes UGR-Reporting optimieren Dokumentation und Analyse. So profitieren Anwender von kürzeren Experimentlaufzeiten und verlässlichen Ergebnissen.
