Mit der Markteinführung des IXplore IX85 SpinXL und SpinSR stellt Evident zwei konfokale Spinning-Disk-Mikroskope vor, die auf dem zuverlässigen IX85-System basieren. Anwender profitieren von hoher Bildrate, großem Sehfeld (26,5 mm), Dual-Kamera-Modus und NIR-Illumination im SpinXL sowie von 120 nm Super-Resolution, beschleunigter 3D-Bildgebung und TruSightSR-Algorithmus im SpinSR. Beide Instrumente automatisieren komplexe Abläufe, verringern Probenbelastung und integrieren sich nahtlos in moderne Zellkultur- und Analyseumgebungen. Sie bieten effektive Echtzeit-Bildverarbeitung und optimieren Mikroskopie-Workflows umfassend.
IXplore IX85 SpinXL: Präzise Zellbildgebung dank einzigartiger CrestOptics-Technologie
spinXL (Foto: EVIDENT Europe GmbH)
Das IXplore IX85 SpinXL setzt auf die hochwertige CrestOptics X-Light Spinning-Disk-Technologie, die mit einer Sehfeldzahl von 26,5 mm breite Probenareale abdeckt. Hohe Bildraten ermöglichen die schnelle Erfassung subzellulärer Bewegungen. Mit der Dual-Kamera-Funktion lassen sich zwei Fluoreszenzkanäle parallel aufzeichnen und so Mehrfachmarkierungen simultan analysieren. Im Vollbildmodus erreicht das System bis zu 498 fps und liefert scharfe, rauscharme Aufnahmen dynamischer Zellvorgänge bei minimaler Phototoxizität. Ein integrierter Echtzeit-Controller optimiert präzise Auslese und Belichtung.
Mit dem Echtzeit-Controller im IX85 SpinXL werden Bilddaten lebender Zellen auch bei extrem hohen Scan-Geschwindigkeiten präzise synchronisiert, wodurch die Belastung der Proben sinkt und photobleachende Effekte minimiert werden. NIR-Lichtquellen dringen tiefer in das Gewebe ein und unterdrücken unerwünschte Hintergrundfluoreszenz, was das Signal-Rausch-Verhältnis deutlich verbessert. Automatisierte Protokolle steuern Fokus und Belichtungsparameter, vereinfachen Kalibrierungsprozesse und gewährleisten reproduzierbare Ergebnisse in Hochdurchsatz-Experimenten unterschiedlicher biowissenschaftlicher Disziplinen. Die intuitive Software führt Anwender effizient durch Workflows nahtlos.
Dynamische Zellabläufe: IXplore IX85 SpinSR erfasst Details im Nanomaßstab
Das IXplore IX85 SpinSR hat eine optimierte Lichtführung, die excitation und Emission über konfokale Aperturen filtert und so kontrastreiche Super-Resolution-Bilder erzeugt. Dank Hochgeschwindigkeits-Spinning-Disk werden 3D-Daten auch bei lebenden Proben zügig erfasst. Präzisionsmotoren und integriertes Autofokus-System halten stabile Fokalebenen während mehrstündiger Experimente. Die vorkonfigurierten 3D-Super-Resolution-Workflows mit XY-Auflösung bis 120 nm lassen sich per Mausklick starten und reduzieren Laboraufwand erheblich. Fortgeschrittene Automatisierungsfunktionen wie Mehrfeld-, Zeitraffer- und Mehrphasen-Akquisition erhöhen signifikant die Experimentvielfalt und Effizienz.
Mit dem TruSightSR-Algorithmus steht eine schnelle Super-Resolution-Funktion bereit, die per Mausklick eine Auflösung bis zu 120 nm liefert. Dadurch können Forscher Helligkeitsunterschiede in Proben exakt messen und sie in superaufgelösten Projektionen vergleichen. Das IX85 SpinSR-Mikroskop verbindet diese Technik mit einer optimierten Akquisitions- und Verarbeitungssoftware, um die Generierung feiner zellulärer Details zu beschleunigen. Schließlich werden lebende Zellen realitätsgetreu abgebildet und ermöglichen eine umfassende Untersuchung dynamischer Zellprozesse und reduzieren gleichzeitig experimentelle Fehlerquellen signifikant.
Die neuen IXplore IX85 SpinXL- und SpinSR-Systeme von Evident bieten eine Kombination aus schneller konfokaler Spinning-Disk-Technik und intelligenter Bildverarbeitung. SpinXL erweitert das Sichtfeld auf 26,5 mm für großflächige Zellanalysen und liefert hochfrequente Aufnahmen, während SpinSR mit TruSightSR-Algorithmen 120 nm Auflösung erreicht. Beide Modelle unterstützen NIR-Fluoreszenz, duale Kameras und automatisierte Workflows. Sie ermöglichen Forschern überzeugende Darstellungen lebender Zellen mit reduziertem Photobleaching und schneller Datengewinnung. Sie liefern intuitive Software, Echtzeitfokus, Mehrkanal-Imaging und hohe Zuverlässigkeit.
